在晶体上长晶体的工艺——外延定义与分类、异质外延相容性、应变工程与源漏外延、成膜机理与硅源化学、六步生长过程、掺杂动力学、选择性外延 SEG、机台架构与温场控制、典型缺陷排查与先进节点趋势。
外延是 FEOL 里少数"直接决定器件本征性能"的模块:沟道迁移率、源漏寄生电阻、结漏电,都与那几百埃到几微米的外延层直接相关。节点越先进,外延的使用次数越多、窗口越窄、要求越苛刻——但它恰恰是很多工程师知识体系里最薄的一块。
SiGe:B 压应变提空穴迁移率、Si:P 张应变提电子迁移率——源漏外延一步同时完成降阻与应变。
硼掺入效率随温度升高、磷砷随温度降低——不知道这条,split 数据就会被误读,调参方向直接反。
从 sputter 式的表面迁移到四区红外温场、上下双 Pyrometer 控温——机理层与设备层一次打通。
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Si/SiGe 外延:定义与分类、异质外延相容性、应变工程与源漏外延、成膜机理与硅源化学、六步生长过程、掺杂动力学、选择性外延 SEG、机台架构与温场控制、典型缺陷排查与先进节点趋势。

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